在微觀尺度上，材料向我們展示的不是絢麗色彩，而是一幅幅富含信息的黑白圖像。澤攸科技的掃描電鏡技術(shù)，正是解讀這些黑白密碼的關(guān)鍵工具，讓材料的成分、結(jié)構(gòu)與演變過(guò)程一目了然。

澤攸科技的ZEM系列掃描電鏡系統(tǒng)支持二次電子（SE）與背散射電子（BSE）信號(hào)同時(shí)采集，并能按任意比例混合成像，實(shí)現(xiàn)形貌與成分信息的wan美融合。

在鈣鈦礦太陽(yáng)能電池的研究中，澤攸科技掃描電鏡通過(guò)BSE模式清晰展示了材料的層狀結(jié)構(gòu)，不同灰度區(qū)域?qū)?yīng)不同材料成分，為器件性能優(yōu)化提供了直觀依據(jù)。

鈣鈦礦太陽(yáng)能電池的SE和BSE模式下的對(duì)比圖

對(duì)于硫磺樣品，SE圖像突出表面形貌細(xì)節(jié)，而B(niǎo)SE圖像則顯示成分均勻性，兩種信號(hào)的對(duì)比分析為材料質(zhì)量控制提供了全面信息。

硫磺的SE和BSE模式下的對(duì)比圖

傳統(tǒng)SEM提供的是材料在某一時(shí)刻的靜態(tài)快照，而澤攸科技的原位SEM技術(shù)則將時(shí)間維度引入觀察中，讓研究者能夠親眼目睹材料在外部條件下的實(shí)時(shí)演變。

金屬玻璃剪切帶行為研究

利用澤攸科技原位SEM，研究者對(duì)金屬玻璃進(jìn)行了不同拉伸加載階段的實(shí)時(shí)觀察，清晰記錄了剪切帶的形成、擴(kuò)展與阻擋過(guò)程。

利用澤攸科技原位SEM對(duì)金屬玻璃在不同拉伸加載階段的圖像觀察，顯示剪切帶的阻擋情況

彈性體材料壓縮行為分析

對(duì)彈性體光刻膠進(jìn)行原位壓縮測(cè)試，澤攸科技系統(tǒng)能夠記錄材料在不同壓縮階段的微觀結(jié)構(gòu)變化。

利用澤攸科技原位SEM對(duì)彈性體光刻膠進(jìn)行原位壓縮測(cè)試

Ti65合金高溫力學(xué)性能研究

通過(guò)澤攸科技原位系統(tǒng)，研究者對(duì)比了Ti65合金在室溫與高溫下的拉伸行為，不僅觀察了斷裂表面的形貌差異，還捕捉到了晶粒間滑移傳遞的動(dòng)態(tài)過(guò)程。

利用澤攸科技原位SEM對(duì)Ti65合金進(jìn)行拉伸測(cè)試：(a) 室溫拉伸測(cè)試的斷裂表面；(b) 高溫拉伸測(cè)試的斷裂表面

更深入的研究還揭示了Ti65合金在室溫（a-c）和高溫（d-f）拉伸測(cè)試過(guò)程中，兩組選定晶粒之間的滑移傳遞行為差異。

Ti65合金在室溫（a-c）和高溫（d-f）拉伸測(cè)試過(guò)程中兩組選定晶粒之間的滑移傳遞行為

澤攸科技在原位附件設(shè)計(jì)中特別注重成像穩(wěn)定性與加載條件的協(xié)同控制。通過(guò)減少樣品轉(zhuǎn)移環(huán)節(jié)，確保實(shí)驗(yàn)條件的一致性，提供可靠、可重復(fù)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。

澤攸科技TEC冷臺(tái)案例圖

從支持雙信號(hào)采集的ZEM系列掃描電鏡，到完整的原位附件生態(tài)系統(tǒng)，澤攸科技為材料科學(xué)研究提供了從靜態(tài)觀察到動(dòng)態(tài)分析的全套解決方案。無(wú)論是基礎(chǔ)材料表征，還是前沿的動(dòng)態(tài)過(guò)程研究，澤攸科技的技術(shù)都能幫助研究者更深入、更全面地理解材料行為。

在微觀世界的探索道路上，澤攸科技以其創(chuàng)新的技術(shù)和穩(wěn)定的性能，正成為越來(lái)越多研究者的shou選合作伙伴，讓材料的每一個(gè)微觀細(xì)節(jié)都變得清晰可見(jiàn)。