服務(wù)熱線
17701039158
產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
產(chǎn)品分類
澤攸透射電鏡:探索微觀世界 澤攸電射推出的PicoScan系列掃描電鏡(SEM),為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和納米技術(shù)研究提供了一種觀察工具。該系列電鏡設(shè)計(jì)緊湊,適合實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。
更新時(shí)間:2026-01-04
產(chǎn)品型號(hào):
瀏覽量:304
澤攸原位電鏡MEMS系統(tǒng)技術(shù)解析方案澤攸透射電鏡原位MEMS系統(tǒng)是一套專為透射電子顯微鏡設(shè)計(jì)的微機(jī)電實(shí)驗(yàn)平臺(tái),旨在實(shí)現(xiàn)對(duì)材料在多種外場(chǎng)激勵(lì)下的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)觀測(cè)。該系統(tǒng)通過(guò)精密的微納加工技術(shù),為材料科學(xué)研究提供了原位實(shí)驗(yàn)的解決方案。
更新時(shí)間:2026-01-04
產(chǎn)品型號(hào):
瀏覽量:396
澤攸原位MEMS:動(dòng)態(tài)電鏡觀測(cè)新方案在材料科學(xué)、納米技術(shù)和生命科學(xué)等領(lǐng)域,透射電子顯微鏡(TEM)是觀察材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具。而原位實(shí)驗(yàn)技術(shù)的進(jìn)步,使得研究人員能夠在原子尺度下實(shí)時(shí)觀察材料在外界刺激(如加熱、拉伸、電場(chǎng)等)下的動(dòng)態(tài)變化。澤攸科技推出的透射電鏡原位MEMS(微機(jī)電系統(tǒng))技術(shù),為這一研究方向提供了新的實(shí)驗(yàn)手段。
更新時(shí)間:2026-01-04
產(chǎn)品型號(hào):
瀏覽量:383
澤攸ZP3-4微納探針臺(tái)是一款適用于微納器件電學(xué)性能測(cè)試的精密儀器,主要服務(wù)于半導(dǎo)體器件、納米材料和微電子機(jī)械系統(tǒng)(MEMS)等領(lǐng)域的研究與測(cè)試需求。該系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)理念,可滿足不同規(guī)格樣品的測(cè)試要求。澤攸ZP3-4微納探針臺(tái)精密電學(xué)測(cè)量平臺(tái)
更新時(shí)間:2026-01-04
產(chǎn)品型號(hào):
瀏覽量:475
澤攸科技ZEM15C是一款緊湊型臺(tái)式掃描電子顯微鏡,專為材料科學(xué)、生命科學(xué)、工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域設(shè)計(jì)。該設(shè)備在保持傳統(tǒng)電鏡高分辨率優(yōu)勢(shì)的同時(shí),通過(guò)優(yōu)化設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了操作簡(jiǎn)便性和空間效率的平衡。澤攸科技ZEM15C臺(tái)式掃描電鏡技術(shù)解析與應(yīng)用
更新時(shí)間:2026-01-04
產(chǎn)品型號(hào):
瀏覽量:501
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測(cè)量系統(tǒng),透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級(jí)空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
更新時(shí)間:2026-01-04
產(chǎn)品型號(hào):
瀏覽量:1201
公司地址:北京市房山區(qū)長(zhǎng)陽(yáng)鎮(zhèn)
公司郵箱:qiufangying@bjygtech.com掃碼加微信
Copyright©2026 北京儀光科技有限公司 版權(quán)所有 備案號(hào):京ICP備2021017793號(hào)-2 sitemap.xml
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸