S neox光學(xué)輪廓儀在光學(xué)元件薄膜檢測(cè)的應(yīng)用

Name: S neox光學(xué)輪廓儀在光學(xué)元件薄膜檢測(cè)的應(yīng)用
Brand: 其他品牌
Price: 1600000 CNY
Availability: InStock

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

S neox光學(xué)輪廓儀在光學(xué)元件薄膜檢測(cè)的應(yīng)用

光學(xué)元件和光學(xué)薄膜的表面質(zhì)量是其性能的決定性因素之一。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2026-03-06

廠商性質(zhì)：代理商

訪問(wèn)量：68

產(chǎn)品咨詢(xún) 17701039158

產(chǎn)品分類(lèi)

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

BRUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測(cè)量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀

查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

Sensofar三維共聚焦顯微鏡微納世界的“全能測(cè)繪師”

Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀：晶圓膠與MEMS器件的精密測(cè)量利器

Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀在PCB表面測(cè)量中的應(yīng)用

維爾戈干涉儀儀器擋板的粗糙度表征

詳細(xì)介紹在線留言

S neox光學(xué)輪廓儀在光學(xué)元件薄膜檢測(cè)的應(yīng)用

光學(xué)元件和光學(xué)薄膜的表面質(zhì)量是其性能的決定性因素之一。

Sensofar S neox非接觸式粗糙度輪廓儀，特別是其白光干涉測(cè)量模式，非常適合于此類(lèi)高光滑表面的表征。

對(duì)于各類(lèi)光學(xué)元件，如透鏡、棱鏡、反射鏡等，儀器可以高精度地測(cè)量其面形誤差，包括平面度、球面度、非球面偏差等，精度可達(dá)納米量級(jí)。同時(shí)，其高垂直分辨率能夠精確測(cè)量元件表面的微觀粗糙度（可達(dá)亞納米級(jí)），這對(duì)于評(píng)估元件的散射損耗、激光損傷閾值等性能至關(guān)重要。

在光學(xué)薄膜檢測(cè)方面，該儀器用途廣泛。它可以測(cè)量單層或多層薄膜的厚度（通過(guò)測(cè)量薄膜臺(tái)階），評(píng)估鍍膜的均勻性。通過(guò)分析薄膜表面的三維形貌，可以量化表面缺陷（如針孔、節(jié)瘤）的密度和尺寸，這些缺陷是導(dǎo)致薄膜激光損傷或影響光學(xué)性能的主要原因。此外，薄膜的應(yīng)力有時(shí)會(huì)導(dǎo)致基片發(fā)生翹曲，通過(guò)測(cè)量鍍膜前后基片的整體形貌變化，可以間接評(píng)估薄膜應(yīng)力的大小和分布。

對(duì)于衍射光學(xué)元件（如光柵、菲涅爾透鏡）或具有微結(jié)構(gòu)的仿生光學(xué)表面，該儀器能夠精確測(cè)量其周期、占空比、刻槽深度等關(guān)鍵幾何參數(shù)，為制造工藝的反饋控制提供直接數(shù)據(jù)。

S neox光學(xué)輪廓儀在光學(xué)元件薄膜檢測(cè)的應(yīng)用

上一個(gè)：光學(xué)輪廓儀在微電子與MEMS制造中的角色