S neox光學(xué)輪廓儀的測(cè)量策略與復(fù)雜表面應(yīng)對(duì)

產(chǎn)品簡介

S neox光學(xué)輪廓儀的測(cè)量策略與復(fù)雜表面應(yīng)對(duì)
實(shí)際工業(yè)生產(chǎn)中的樣品表面往往復(fù)雜多樣，可能同時(shí)包含光滑與粗糙區(qū)域、高反光與吸光材質(zhì)、平坦區(qū)域與高陡坡結(jié)構(gòu)。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2026-03-06

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：92

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

BRUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測(cè)量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀

查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

Sensofar三維共聚焦顯微鏡微納世界的“全能測(cè)繪師”

Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀：晶圓膠與MEMS器件的精密測(cè)量利器

Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀在PCB表面測(cè)量中的應(yīng)用

維爾戈干涉儀儀器擋板的粗糙度表征

詳細(xì)介紹在線留言

S neox光學(xué)輪廓儀的測(cè)量策略與復(fù)雜表面應(yīng)對(duì)

實(shí)際工業(yè)生產(chǎn)中的樣品表面往往復(fù)雜多樣，可能同時(shí)包含光滑與粗糙區(qū)域、高反光與吸光材質(zhì)、平坦區(qū)域與高陡坡結(jié)構(gòu)。

Sensofar S neox非接觸式粗糙度輪廓儀通過其多技術(shù)平臺(tái)和靈活的測(cè)量策略，為應(yīng)對(duì)這些復(fù)雜表面提供了方案。

其核心技術(shù)優(yōu)勢(shì)在于將共聚焦和白光干涉技術(shù)集成于一體。共聚焦技術(shù)對(duì)陡峭邊緣、粗糙表面有較好的測(cè)量能力，且受表面反射率變化影響較??；而白光干涉技術(shù)則在測(cè)量光滑、連續(xù)表面時(shí)具有更高的垂直分辨率。對(duì)于混合表面，用戶可以在一次測(cè)量中，針對(duì)不同區(qū)域選擇最合適的技術(shù)，或者通過軟件智能推薦獲得更佳測(cè)量結(jié)果。

面對(duì)高反射表面（如拋光金屬鏡面）容易過曝的挑戰(zhàn)，儀器提供光強(qiáng)自動(dòng)/手動(dòng)調(diào)節(jié)功能，并可選配偏振器附件來抑制強(qiáng)反射光，從而獲得清晰的干涉條紋或圖像。

對(duì)于具有高深寬比結(jié)構(gòu)（如深槽、高臺(tái)階）的樣品，高數(shù)值孔徑（NA）的物鏡有助于提升橫向分辨率和對(duì)陡坡的響應(yīng)。其5軸運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)（如果配置）允許傾斜樣品，使測(cè)量光束能更好地入射到側(cè)壁，從而改善此類特征的測(cè)量效果。

在測(cè)量透明或多層薄膜材料時(shí)，需要考慮下層界面的反射干擾。此時(shí)，共聚焦模式因其光學(xué)層析能力可能更為適用，或者可以利用軟件中的透明材料校正算法，在輸入折射率參數(shù)后對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行補(bǔ)償。

通過靈活運(yùn)用這些技術(shù)特性和測(cè)量策略，Sensofar S neox能夠適應(yīng)廣泛的材料類型和表面狀態(tài)，為研發(fā)和質(zhì)量控制提供更可靠的三維表面數(shù)據(jù)。

S neox光學(xué)輪廓儀的測(cè)量策略與復(fù)雜表面應(yīng)對(duì)

上一個(gè)：S neox光學(xué)輪廓儀的操作便捷性與自動(dòng)化潛力